SF6氣體是SF6斷路器重要的調試項目，也是保證SF6斷路器正常運行的關鍵。對于運行中的設備，一般利用密度繼電器對SF6氣體的泄漏實時監測，一旦壓力值迅速下降或出現報警信號，則需要進一步的對漏氣部位進行查找，以求在*短的時間內確定漏氣部位，為處理缺陷爭取時間。下面介紹一下常用的檢漏方法。

定性檢漏

定性檢漏在現場較實用，具體包括簡易定性檢漏、壓力下降法、分割定位法和局部蓄積法。

(1)簡易定性法。使用一般的檢漏儀，對所有組裝的密封面、管道連接處及其他懷疑的地方進行檢測。方法簡單，能查找較明顯的局部泄漏。

(2)壓力下降法。用精密壓力表測量SF6氣體壓力，隔數天或數十天進行復測，結合溫度換算或進行橫向比較來判斷發生的壓力下降。

(3)分割定位法。適用于三相SF6氣路連通的斷路器，把SF6氣體系統分割成幾部分后再進行檢漏，可減少盲目性。

(4)局部蓄積法，用塑料布將測量部位包扎，經過數小時后，再用SF6檢漏儀測量塑料布內是否有泄漏的SF6氣體，它是目前較常采用的定性檢漏方法。

定量檢漏

定量檢漏法是用塑料袋將被測開關部件或整臺開關罩起來，經過一定時間（例如數十小時）后，測量塑料袋內的SF6氣體濃度，再根據塑料袋內體積和包圍時間等參數來計算漏氣率。

定量檢漏有掛瓶檢漏法和局部包扎法，應在充氣24h后進行。可采用韋弗斯公司研發生產的紅外光譜法WINFOSS-C2型SF6定量檢漏儀作為定量測量，使用**方便，比較理想。定量測量的判斷標準為年漏氣率不大于1%。

運行實踐證明，SF6斷路器易漏部位主要有：各檢測口、焊縫、充氣嘴、法蘭結合面、壓力表連接管、密封底座等。而GIS設備的常見漏氣點有：焊縫、充氣嘴、法蘭結合面、壓力表。

光學成像檢漏

光學成像法是近年來興起的一項新技術，比較成熟的方法有激光成像法和紅外成像法，二者都是利用SF6氣體的紅外吸收特性使泄漏氣體在視域內清晰可見，能在設備帶電的情況下進行檢測。

四、紅外成像法：是近年來興起的一項新技術的檢漏方法，但在實際使用中也會有一定的局限性。由于紅外成像的檢測精度不高，微量泄漏根本檢測不出來，泄漏量大的部位也需要多次調整焦距，才能找到漏點；另外室內GIS設備安裝較為緊湊，對內部的檢漏較為困難。對于室外HGIS設備，由于安裝高度較高，也使得對設備頂部、邊沿或隱蔽的地方檢漏較為困難，加上室外風速、溫濕度等環境因素的影響，一些存在輕微滲漏的HGIS設備就更難以用光學成像法檢測出來。

紅外成像法利用SF6氣體特定的紅外吸收光譜，能使泄漏氣體清晰可見，進而可以在設備不停電的狀況下進行檢漏，是一種較理想的檢漏手段。但在實際情況中由于GIS設備安裝特點，導致光學成像法也存在一定的缺點。例如由于室內GIS設備安裝較為緊湊，對內部的檢漏較為困難。對于室外GIS設備，由于安裝高度較高，也使得對設備頂部、邊沿或隱蔽的地方檢漏較為困難，加上室外風速、溫濕度等環境因素的影響，一些存在輕微滲漏的GIS設備就更難以用光學成像法檢測出來。

SF6氣體目前在高壓開關中普遍使用的一種絕緣氣體。但是sf6氣體是“京都協議”中禁止的排放的一種氣體，對大氣層破壞嚴重。當然若在高壓開關中有泄漏的話，會降低其絕緣能力。因此對sf6氣體的泄漏檢測就顯的尤為重要。目前常見的SF6氣體檢漏方法有多種，各種方法都有其優缺點，如下我們將逐一討論。

GIS 設備采用密度繼電器對SF6氣體的泄漏實時監測，一旦壓力值迅速下降或出現報警信號，則需要進一步的定性檢測手段對漏氣部位進行查找，以求在*短的時間內確定漏氣部位，為處理缺陷爭取時間。相比于高壓斷路器和電流互感器等SF6充氣設備，GIS 設備工藝復雜，密封面、接口數量多，其漏氣原因多種多樣，確定難度更大，目前常規的檢漏手段包括肥皂水試漏、局部包扎法檢漏、檢漏儀檢漏及紅外成像法檢漏等等。

一、泡沫檢漏法：采用在檢漏部位涂刷肥皂水，看其有無氣泡產生。需要基本知道泄漏部位以后才能進行檢漏確認，同時，對于**距離不滿足要求的帶電部位無法檢測，且工作量大，適用性差。

二、定性檢漏法：將檢漏儀探頭沿斷路器各連接口表面和鋁鑄件表面移動，根據檢漏儀讀書判斷氣體的泄漏情況。此方法工作量大，沒有目的性，若探頭移動速度過快，容易錯過漏點；檢漏時受到風速影響，泄漏氣體容易被風吹走而影響檢漏，同時對**距離不滿足要求的帶電設備無法檢測。

三、包扎檢漏法：將充氣設備包扎起來，經過一段時間后再采用檢漏儀在包扎體內部進行檢漏，檢查包扎部位的漏氣情況。工作量大，有些部位包扎困難或無法包扎，**距離不滿足要求的帶電部位無法檢測，同時，該方法屬于局部面檢測，不易快速找準泄漏點。